陶瓷涂層厚度的檢驗包含部分厚度的檢驗和平均厚度的檢驗。檢測方式有非毀滅性檢驗（無損檢測技術(shù)）和毀滅性檢驗二種方式。
熱噴涂陶瓷涂層無損檢測技術(shù)方式關(guān)鍵有帶磁法、渦旋法、測量法等；毀滅性測試法關(guān)鍵有體視顯微鏡法。
１.帶磁法
帶磁法原理是以探頭對帶磁基體磁通量或互感電流量為標(biāo)準(zhǔn)，運用其表面的非磁性陶瓷涂層的厚度不一樣，對探頭磁通量或互感電流量的線形轉(zhuǎn)變值來測量陶瓷涂層厚度。故該方式融入于帶磁基體上非磁性陶瓷涂層厚度的檢驗。帶磁涂層測厚儀現(xiàn)階段現(xiàn)有多種多樣產(chǎn)品。如：CH-1型、DHC-1型、QCC-A型等。因為該方式簡單易行，大部分當(dāng)場應(yīng)用此方式。
（1）檢驗方式。這類方式在測量以前解決開展系統(tǒng)軟件調(diào)節(jié)，以保證測量精密度。依據(jù)被測產(chǎn)品工件陶瓷涂層合理總面積的 尺寸，選用不一樣測量等級開展。對合理總面積低于一厘米2的陶瓷涂層產(chǎn)品工件作6點測量；對合理總面積超過一厘米2的陶瓷涂層產(chǎn)品工件，在挑選基準(zhǔn)點所圍3-5點測量；對合理總面積超過1米2的陶瓷涂層產(chǎn)品工件，在挑選基準(zhǔn)點所圍9點10次測量，在其中第1次測量點與第10次重疊。
（2）測量影響因素?；w金屬材料自身要素的危害：厚度、帶磁、折射率、表面表面粗糙度、機械加工制造方位和磁損等；陶瓷涂層自身影響因素：厚度、導(dǎo)電性、表面表面粗糙度等；環(huán)境要素：周邊電磁場、外界附屬物等；測量方法的危害：探頭工作壓力、探頭趨向和邊緣效應(yīng)等。
（３）標(biāo)準(zhǔn)表面的明確。當(dāng)測量合理表面低于一厘米2的產(chǎn)品工件部分厚度的標(biāo)準(zhǔn)時，應(yīng)取全部合理表面；當(dāng)測量合理表面超過一厘米2的產(chǎn)品工件部分厚度的每一個標(biāo)準(zhǔn)表面時應(yīng)選一厘米2(盡量取周長為一厘米的方形）；標(biāo)準(zhǔn)表面數(shù)量的明確必不可少使標(biāo)準(zhǔn)表面的占地面積不小于合理總面積的5%，標(biāo)準(zhǔn)表面的部位應(yīng)分布均勻在全部合理表面上。
2.渦旋法
渦旋法原理是將內(nèi)嵌高頻率電流量電磁線圈探頭放置陶瓷涂層上，在被測陶瓷涂層內(nèi)造成高頻率電磁場，從而在金屬材料內(nèi)部造成渦旋，渦旋造成的電磁場又反作用力于探頭內(nèi)電磁線圈，使其特性阻抗產(chǎn)生變化。隨基體表面陶瓷涂層厚度的轉(zhuǎn)變，探頭與基體金屬材料表面的間隔更改，反作用力于探頭電磁線圈特性阻抗產(chǎn)生相對的轉(zhuǎn)變。從而，測到探頭電磁線圈的特性阻抗值能夠間接的體現(xiàn)出陶瓷涂層的厚度。該方式融入于非磁性金屬材料基體原材料上非導(dǎo)電性陶瓷涂層的厚度測量，一樣也融入于帶磁基體原材料上的各種各樣非磁性陶瓷涂層。國內(nèi)渦旋涂層測厚儀有：JWH-1、JWH-3、7504等型號規(guī)格。
3.測量法
憑借千分尺、游標(biāo)卡尺等測量儀器立即測量陶瓷涂層厚度。該方式關(guān)鍵用以機械零件的生產(chǎn)制造預(yù)維護陶瓷涂層和廢棄零件的再生產(chǎn)陶瓷涂層中。將機械零件的公稱尺寸上切到預(yù)埋陶瓷涂層厚度的規(guī)格，在這個基礎(chǔ)上制取陶瓷涂層，并留出相對的加工的剩余量，歷經(jīng)銑削、切削后，使陶瓷涂層含量維持在陶瓷涂層設(shè)計室必須的厚度。
4.體視顯微鏡法
該方式融入一般陶瓷涂層的測厚。其特性是精確度高，辨別形象化。將被測陶瓷涂層試件做成陶瓷涂層橫斷面試件，隨后用含有目鏡的體視顯微鏡觀查陶瓷涂層橫剖面的變大圖象，立即測量出陶瓷涂層的部分厚度的均值。所制取供測量用陶瓷涂層厚度的試件應(yīng)開展激光切割、邊沿維護、嵌入（于一般金鑲制樣嵌入同樣）、碾磨、打磨拋光、侵漬（目地是為使試件橫斷面的陶瓷涂層和基體原材料的模型清楚地露出分別的顏色和表面特點，便于測量），隨后水清洗烘干就可以開展測量。
5.陶瓷涂層厚度評價方法
一般狀況下，熱噴涂陶瓷涂層的厚度明確為在被測合理表面上測出的陶瓷涂層厚度。針對不一樣主要用途的陶瓷涂層，可依據(jù)客戶規(guī)定匯報均值厚度、 厚度或較大 厚度。 |
